ASTM A33 冷加工合金钢棒
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 20:33:33 浏览:8437
来源:标准资料网
【英文标准名称】:MethodsofChemicalAnalysisofPlainCarbonSteel
【原文标准名称】:冷加工合金钢棒
【标准号】:ASTMA33
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:合金;棒材;冷加工;钢
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H44
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Sectionalspecification:Fixedlowpowersurfacemount(SMD)resistors
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调系统.分规范.低功率表面安装的固定电阻器
【标准号】:BSEN140400-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-03-12
【实施或试行日期】:2004-03-12
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:表面安装设备;电气工程;SMD;规范;试验;电阻器;特性;规范(验收);试验方法;电子设备及元件;尺寸选定;分规范;固定电阻器
【英文主题词】:Capacitiveloads;Dimensioning;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Fixedresistors;Properties;Resistors;Sectionalspecification;SMD;Specification;Specification(approval);Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testmethods;Testing
【摘要】:Thissectionalspecificationprescribesthepreferredvaluesforcharacteristicsandratingsandalsotheinspectionrequirementsforfixedsurfacemountresistorsofassessedquality.Theseresistorsgenerallyhavemetallisedconnectingpadsandareintendedtobemounteddirectlyontosubstrates,forexamplehybridintegratedcircuitsorprintedboards.Itselectsfromthegenericspecification,EN60115-1,theappropriatemethodsoftesttobeusedindetailspecificationsderivedfromthisspecification.AssociatedwiththisspecificationareoneormoreblankdetailspecificationseachreferencebyanENnumber.Ablankdetailspecificationwhichhasbeencompletedasspecifiedin1.2ofthisspecificationformsadetailspecification.SuchdetailspecificationsmaybeusedforthegrantofqualificationapprovaltoaresistorandfortheperformanceofqualityconformanceinspectioninaccordancewiththeCECCsystem.
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 |
| 英文名称： | Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料的其他试验方法
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| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2011-01-10 |
| 实施日期： | 2011-10-01 |
| 首发日期： | 2011-01-10 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 归口单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 起草单位： | 中国科学院半导体研究所 |
| 起草人： | 陈涌海、赵有文、提刘旺、王元立 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-10-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测试方法。
本标准适用于GaAs、InP(GaP、GaSb可参照进行)等化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测量。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属化学分析方法 半金属及半导体材料分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料的其他试验方法
